新的USB Type-C MOI，加上是德科技狀態檔等測試套件，可與Keysight M937xA PXIe多埠向量網路分析儀(VNA)搭配運作，以便為工程師提供USB Type-C相容性測試解決方案。另外，該實作方法也針對時域和頻域量測提供按部就班的完整指引，以便簡化相容性設定和測試。

隨著使用者的頻寬需求不斷升高，高速數位標準也持續演進，以支援更高的資料速率。相較於目前的5Gbps USB 3.0規格，10Gbps USB 3.1規格可提供兩倍以上的實際資料速率。然而，資料速率的快速提高，使得工程師面臨更嚴格的實體層測試要求，以確保裝置的互通性。高速數位纜線組件帶來的量測挑戰之一就是多埠量測。

Keysight M937xA PXIe多埠VNA具有全N埠校驗和固有的頻域量測功能，可實現真正的多埠量測。針對USB Type-C纜線組件測試，工程師可配置M937xA，以便支援12埠量測和300kHz至15GHz的頻率，進而產生S12P touchstone檔案，最後使用USB-IF相容性測試工具來進行分析。藉由使用M937xA VNA的12埠配置來產生S12P檔案，頻域量測時間可大幅縮短至僅僅20秒。

Keysight M937xA向量網路分析儀是全球速度最快的PXI VNA，在單一PXI插槽中配備了全雙埠VNA，並支援300kHz至26.5GHz的多埠量測。Keysight M937xA PXIe VNA採用和是德科技可信賴的PNA和ENA VNA相同的量測科學，可提供媲美機箱式VNA的量測準確度、大於114dB的動態範圍、低於0.003dB的軌跡雜訊和0.005dB/degree的穩定度。為滿足未來的多埠量測需求，PXIe VNA最多可將單一機箱的VNA模組數擴充為16個，以支援最多32埠的完全修正多埠量測。

活動簡介

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