SuperFET III MOSFET滿足耐用與可靠要求

2016-09-27
作者 Fairchild

Fairchild推出其SuperFET III 650V N通道MOSFET系列。新一代MOSFET能夠滿足最新的電信、伺服器、電動汽車(EV)充電器及光伏產品對於更高功率密度、系統效率及出色的可靠性方面的要求。

SuperFET III MOSFET系列兼具同類最佳的可靠性、低EMI、出色的效率以及卓越的熱效能,使其成為高效能應用的理想選擇。除了出色的效能特性,其廣泛的封裝選擇更是錦上添花,賦予產品設計者更大的靈活性,對於尺寸受限的設計尤其如此。

在任何驅動簡易的超接面MOSFET中,SuperFET III技術均可實現最低Rdson,同時提供同類最佳效率。該產品能夠實現這一優勢是因為它採用了先進的電荷平衡技術,相較其SuperFET II前代產品,在封裝尺寸相同的情況下,Rdson可降低44%。

SuperFET III系列具有卓越的耐用性及可靠性,其中的關鍵因素在於其同類最佳的體二極體以及優於其最相近競爭產品三倍的單脈衝崩潰能量(EAS)效能。

650V SuperFET III系列在關斷期間具有較低的峰值汲源極電壓,在低溫運行時可增強系統可靠性,因為相較於室溫,在接面溫度為-25℃的條件下,崩潰電壓自然而然地降低5%,且峰值汲源極電壓在低溫下會增加。

這些可靠性優勢對於諸如光伏逆變器、不間斷電源(UPS)及EV充電器等應用尤其重要,此類應用必須能夠耐受更高或更低地外部環境溫度。SuperFET III MOSFET系列今日上市,提供多種封裝及參數選擇。

活動簡介
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