高精密度SAR ADC縮短測試時間與開發週期

2016-11-17
作者 ADI

Analog Devices, Inc. (ADI)推出新一代高精密度連續漸進型(SAR)類比數位轉換器(ADC) AD4003和AD4000,以獨特的方式將高性能、低功耗、小尺寸和易用性結合於一體。

這些IC元件不僅能夠確保行動測試和測量儀器在現場持續工作更長時間,同時還能提高測量精密度和可重複性。兩款新元件有助於開發尺寸更小的儀器,可靠近受測感測器放置,或容納更多的資料擷取通道。具有這些特性的儀器可提高現場測試的效率,降低新產品特性化時間相關成本。

2 MSPS取樣速率的SAR ADC AD4003(18位元)和AD4000(16位元)具有高性能且易使用,因此大大減輕了系統設計人員的工作負荷,能夠在更短的設計週期內實現最佳資料擷取設計性能,並且無需進行艱難而糾結的技術權衡考量。

該系列產品具有高輸入阻抗模式和跨度壓縮模式,能夠減少ADC驅動器級的設計難題,提高放大器選型的靈活性。高輸入阻抗模式允許使用低功耗精密放大器直接驅動ADC,從而降低了訊號鏈的功率需求。此外,還提供內建過壓保護功能,因此無需使用外部保護裝置,跨度壓縮使得ADC驅動器級可利用ADC的同一電源軌工作,從而簡化了電源管理。這種組合既可增加通道密度,同時降低了系統級功率要求,並且不會影響性能。

AD400x系列包括20位元、18位元和16位元SAR ADC,提供500 KSPS至2 MSPS速率選項。

活動簡介
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